利用偏压控制表面统计特性：原子力显微镜与随机分析
数据分析、统计与概率
2015-05-13 v1
摘要
利用原子力显微镜技术及其随机分析，研究了偏压对粗糙表面统计特性的影响。我们通过随机参数（如粗糙度指数、水平穿越、漂移和扩散系数）作为外加偏压的函数，表征了粗糙表面高度涨落的复杂性。研究表明，这些统计参数以及微观结构参数也能解释表面的宏观性质。此外，还检验了针尖卷积效应对随机参数的影响。
引用
@article{arxiv.0704.1029,
title = {Controlling surface statistical properties using bias voltage: Atomic force microscopy and stochastic analysis},
author = {P. Sangpour and G. R. Jafari and O. Akhavan and A. Z. Moshfegh and M. Reza Rahimi Tabar},
journal= {arXiv preprint arXiv:0704.1029},
year = {2015}
}
评论
8 pages, 11 figures;