利用 CHAMP+MIRC 进行 CHARA 六望远镜条纹跟踪的控制接口概念
天体物理仪器与方法
2013-12-17 v1
摘要
CHARA-Michigan 相位跟踪器（CHAMP）和 Michigan 红外合成器（MIRC）对 CHARA 阵列的六台望远镜进行共相处理，正在推动红外长基线干涉成像在恒星与行星形成等关键科学领域的前沿发展。在此，我们回顾了 CHAMP 和 MIRC 控制接口的概念及近期改进，这些接口建立了与实时数据记录及条纹跟踪代码的通信，提供了必要的性能诊断，并协助观测者进行对准和通量优化。针对 MIRC 的条纹探测与跟踪，我们开发了一种新颖的矩阵方法，该方法基于交叉条纹信息提供条纹位置预测。
引用
@article{arxiv.1312.4098,
title = {Control interface concepts for CHARA 6-telescope fringe tracking with CHAMP+MIRC},
author = {Stefan Kraus and John Monnier and Fabien Baron and Xiao Che and Rafael Millan-Gabet and Natalie Thureau and Ettore Pedretti},
journal= {arXiv preprint arXiv:1312.4098},
year = {2013}
}
备注
6 pages, 4 figures, published in SPIE conference proceedings (http://dx.doi.org/10.1117/12.926559)