Hanle自旋旋进测量中接触诱导的自旋弛豫
介观与纳米尺度物理
2012-12-12 v1
摘要
在自旋电子学领域,“电导失配”问题仍然是一个重要议题。这里,铁磁电极与(高电阻)输运通道之间的电阻差异导致注入的自旋被背散射回引线并失去其自旋信息。我们研究了由此产生的接触诱导自旋弛豫对自旋输运的影响,特别是在非局域Hanle旋进测量中。由于Hanle线形受到接触诱导效应的修改,对Hanle曲线的拟合可能导致错误地确定输运通道的自旋输运性质。我们量化了这种效应,它模拟了通道自旋弛豫时间的减少,可达4个数量级以上,以及扩散系数的轻微增加(小于2倍)。然后,我们将结果与文献中石墨烯的自旋输运测量进行了比较。我们进一步指出了Hanle旋进拟合过程的指导原则,该过程允许从测量中可靠地提取自旋输运性质。
引用
@article{arxiv.1210.0093,
title = {Contact induced spin relaxation in Hanle spin precession measurements},
author = {T. Maassen and I. J. Vera-Marun and M. H. D. Guimarães and B. J. van Wees},
journal= {arXiv preprint arXiv:1210.0093},
year = {2012}
}
备注
9 pages, 7 figures