利用准正规模式连接耦合有损腔谐振器的经典与量子模式理论

我们提出了一种量子化的准正规方法，以严格描述耦合有损谐振器，并量化了量子耦合参数随谐振器间距变化的函数关系。我们还在经典与量子准正规模式参数及理论之间建立了直接联系，为耦合开放腔谐振器提供了新颖且独特的见解。我们给出了耦合微盘谐振器的详细计算，并展示了显著的干涉效应，该效应依赖于准正规模式的相位，且对于高品质因子模式同样重要。我们的结果表明，此类系统通常采用的耗散主方程并不适用，我们讨论了使用量子化准正规模式耦合参数所捕捉到的新物理，并展示了这些参数与经典模式参数的关联。利用这些新见解，我们还提出了几种模型来修正耦合腔谐振器的耗散 Jaynes-Cummings 型模型的缺陷。此外，我们展示了如何通过采用基于准正规模式本征频率知识的非对角模式展开以及解析耦合模式理论，来改进经典和量子的无损耗模式模型（即使用正规模式），从而精确捕捉高品质因子下的模式干涉效应。