耦合双点结构中电导率抑制：来自相关电子输运
介观与纳米尺度物理
2007-05-23 v1 强关联电子
摘要
在低温下研究两个互容耦合的金属双点结构之间的静电相互作用。实验表明，当通过对两个双点结构施加适当的栅极偏置来解除库仑阻塞时，每个双点结构通过其电导率显著低于仅一个双点结构导电时的情况。推导了该系统的主方程，实验数据与之良好吻合。该模型表明，每个双点结构中电导率的降低是由其他双点结构中单电子隧穿引起的。每个双点结构对另一双点结构上瞬时而非平均电位的响应，导致系统内相关电子运动，即一个双点结构中单个电子的位置控制了另一个双点结构的隧穿速率。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9911173,
title = {Conductance Suppression due to Correlated Electron Transport in Coupled Double-dots},
author = {Geza Toth and Alexei O. Orlov and Islamshah Amlani and Craig S. Lent and Gary H. Bernstein and Gregory L. Snider},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9911173},
year = {2007}
}
备注
19 pages [pre-print style], 8 figures, accepted for Phys. Rev. B