A 位和 B 位取代 BiFeO₃ 薄膜中老化效应的比较研究
材料科学
2011-12-30 v2
摘要
在 LaNiO₃(100)/Si 衬底上生长的 (100) 取向 Bi₀.₉₅Ca₀.₀₅FeO₃ (BCFO) 和 BiFe₀.₉₅Ni₀.₀₅O₃ (BFNO) 薄膜中，观察到了老化效应的典型特征——双电滞回线。与 BFNO 薄膜相比，BCFO 薄膜的双电滞回线随外加电压增加而变得不那么“受约束”，表明后者的老化效应更为严重。这可以通过 BFNO 更低的漏电流和更小的介电常数来证明。这些现象基于晶体结构和缺陷化学进行了解释。通过 XPS 数据阐明了 Bi、Ca、Fe、Ni 和 O 离子的缺陷态。
引用
@article{arxiv.1110.2818,
title = {Comparative study on aging effect in BiFeO3 thin films substituted at A- and B-site},
author = {Xi Wang and Guangda Hu and Ling Cheng and Changhong Yang and Weibing Wu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1110.2818},
year = {2011}
}
备注
15 pages, 5 figures, accepted by Applied Physics Letters