关于"利用 MALBEK 进行暗物质搜索"的评论

CoGeNT 和 MALBEK 使用 p 型点接触锗探测器来搜索低质量暗物质粒子。这两种探测器具有相同的固有噪声特性。然而，MALBEK 的数据采集电子器件严重降低了在感兴趣的 sub-keVee 能量范围内，通过测量前置放大器脉冲上升时间来区分源自锗晶体体部和表面背景信号的能力。本文阐明了 MAJORANA 合作组为补偿这一局限性而开发的参数 W$_{par}$ 的物理意义。结果表明，该参数在低能下与上升时间不相关，目前无法区分低于 $\sim$1 keVee 的表面事件和体部事件。这导致在使用激进的 W$_{par}$ 截断时，大幅高估了 MALBEK 对低质量暗物质粒子的灵敏度。