关于“利用萨尼亚克干涉显微镜在坡莫合金薄膜中光学探测横向自旋塞贝克效应”的评论
介观与纳米尺度物理
2019-03-14 v1
摘要
测量自旋流与自旋积累颇具挑战性。这主要是因为它们尺度微小，且缺乏可与常规电流表或电压检测器相类比的标准自旋探测器。因此，听闻探测自旋流与自旋积累的新方法更令人欣慰。最近的一个例子是McLaughlin等人[Phys. Rev. B 95, 180401 (2017)]的论文，他们报道了利用萨尼亚克干涉显微镜以光学手段对金属中横向自旋塞贝克效应（TSSE）的新测量。然而，由于尚无可用于验证的标准流程或参考测量，对这类新颖实验方法进行批判性讨论至关重要。在我们的评论中，我们估算了McLaughlin等人观测到的效应大小。为说明该估算值异常之大，我们将其与另一自旋热电子学效应——自旋依赖塞贝克效应——进行比较。如此大的TSSE与此前未能分辨出TSSE信号的实验相矛盾。因此，我们推测McLaughlin等人测量的信号并非或并非仅由TSSE引起。
引用
@article{arxiv.1810.13220,
title = {Comment on "Optical detection of transverse spin-Seebeck effect in permalloy film using Sagnac interferometer microscopy"},
author = {Johannes Kimling and Timo Kuschel},
journal= {arXiv preprint arXiv:1810.13220},
year = {2019}
}