二氧化硅玻璃中缺陷产生的时钟跃迁
材料科学
2025-02-06 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
自旋系统中的时钟跃迁（CTs）发生在能级交叉回避处，通过使跃迁对一阶磁场涨落退相干效应免疫，从而增强量子相干寿命 T₂。我们首次对某些富缺陷二氧化硅玻璃中的 CTs 进行了电子自旋共振（ESR）表征，注意到 CTs 处的相干时间高达 16 μs。我们在硼硅酸盐和铝硅酸盐玻璃中发现了零磁场下的 CT 行为，但在多种缺乏硼或铝的二氧化硅玻璃中未发现。退火处理会降低或消除零磁场信号。由于硼和铝具有相同的价态且在替代硅时是受主，我们推测观察到的 CT 行为可能由硼硅酸盐玻璃中的自旋-1 硼空位中心产生，类似地，由铝硅酸盐玻璃中的铝空位中心产生。
引用
@article{arxiv.2407.21214,
title = {Clock Transitions Generated by Defects in Silica Glass},
author = {Brendan C. Sheehan and Guanchu Chen and Jonathan R. Friedman},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.21214},
year = {2025}
}
备注
The Main Manuscript features 9 pages, 5 figures, and 1 table. The Supplement features an additional 6 pages, 4 figures, and two tables