由平行电场和磁场产生的手征介质

我们计算了在平行电场和磁场背景下夸克物质的手征对称性恢复的（伪）临界温度 $T_c$。这种场位形导致在时间尺度 $\tau$ 上产生手征介质，其特征是手征密度的非零值，该值由于热浴中的微观过程而达到平衡。我们估计在手征转变附近的弛豫时间 $\tau$ 约为 $\approx 0.1-1$ fm/c；然后我们计算了场和手征介质对 $T_c$ 的影响。我们发现，在手征介质中 $T_c$ 被外场降低。