B 介子衰变中的带电径迹多重数
高能物理 - 实验
2010-04-08 v1
摘要
利用 CLEO II 探测器研究了在 Υ(4S) 共振峰处产生的 B 介子衰变中的带电粒子多重数。使用包含 1.5×10⁶ 对 B 介子对的样本，我们发现 B 介子对衰变的平均带电粒子多重数为 10.71 ± 0.02 ⁺⁰·²¹₋₀.₁₅。这对应于单个 B 介子衰变的平均多重数为 5.36 ± 0.01 ⁺⁰·¹¹₋₀.₀₈。利用同一数据样本，我们还提取了半轻子衰变和非半轻子衰变中的平均多重数。当两个 B 介子都发生半轻子衰变时，每个 B̄B 衰变的平均多重数为 7.82 ± 0.05 ⁺⁰·²¹₋₀.₁₉。当两个 B 介子都不发生半轻子衰变时，每个 B̄B 对的平均带电粒子多重数为 11.62 ± 0.04 ⁺⁰·²⁴₋₀.₁₉。
引用
@article{arxiv.hep-ex/9907057,
title = {Charged Track Multiplicity in B Meson Decay},
author = {G. Brandenburg and CLEO Collaboration},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/9907057},
year = {2010}
}
备注
11 pages postscript, also available through http://w4.lns.cornell.edu/public/CLNS