超薄绝缘薄膜上单分子的电荷态寿命
介观与纳米尺度物理
2023-06-16 v2
摘要
在绝缘薄膜上分子的扫描隧道显微镜(STM)实验中，通过分子共振隧穿意味着对分子进行瞬态充电。通过绝缘薄膜隧穿回到电荷基态的过程至关重要，例如对于理解STM诱导的电致发光。在此，我们利用STM报道了吸附在Cu(111)和Au(111)上不同厚度NaCl薄膜上单个分子的电荷态寿命。为此，我们在共振隧穿条件下将针尖靠近分子，直至达到电荷输运受NaCl薄膜隧穿限制的状态。由此产生的隧穿电流饱和是分子电荷态寿命的直接度量，从而提供了一种研究电荷动力学以及由此产生的激子动力学的方法。对不同基底上阴离子和阳离子寿命的比较揭示了其与绝缘体导带和价带以及金属-绝缘体界面态的能级对齐的关键作用。
引用
@article{arxiv.2211.01051,
title = {Charge-state lifetimes of single molecules on ultrathin insulating films},
author = {Katharina Kaiser and Leonard-Alexander Lieske and Jascha Repp and Leo Gross},
journal= {arXiv preprint arXiv:2211.01051},
year = {2023}
}