利用精确非经验密度泛函SCAN meta-GGA表征薄膜材料
材料科学
2017-04-27 v1
摘要
我们讨论了使用最近提出的强约束和适当归一化(SCAN) meta-广义梯度近似(meta-GGA)密度泛函理论，自洽获得的石墨烯及若干后石墨烯化合物（包括过渡金属二硫属化物(TMDs)薄膜）单层的基态电子性质。将SCAN meta-GGA结果与基于局域密度近似(LDA)以及广义梯度近似(GGA)的结果进行比较。正如预期，GGA相对于LDA产生膨胀的晶格和软化的键，但SCAN meta-GGA系统地改善了与实验的一致性。我们的研究表明了SCAN泛函在更普遍地高精度建模分层材料电子结构以及高通量计算中的功效。
引用
@article{arxiv.1704.07922,
title = {Characterization of Thin Film Materials using SCAN meta-GGA, an Accurate Nonempirical Density Functional},
author = {I. G. Buda and C. Lane and B. Barbiellini and A. Ruzsinszky and J. Sun and A. Bansil},
journal= {arXiv preprint arXiv:1704.07922},
year = {2017}
}