利用单自旋磁强计表征 CrTe$_2$ 薄层中层状室温面内磁化
材料科学
2021-03-31 v2
摘要
我们展示了 CrTe 范德瓦耳斯铁磁体薄层中具有面内磁各向异性的室温铁磁性。利用基于金刚石中氮空位缺陷的单自旋磁强计进行定量磁成像，我们推断出厚度低至 nm 的薄层其室温面内磁化强度在 kA/m 范围内。此外，我们的测量表明，在微米级 CrTe 薄层中，磁化方向并非仅由形状各向异性决定，这表明存在不可忽略的磁晶各向异性。这些结果使 CrTe 成为不断壮大的范德瓦耳斯铁磁体家族中独特的体系，因为它是迄今为止已知唯一在薄层中提供本征面内磁化且居里温度高于 K 的材料平台。
引用
@article{arxiv.2011.05722,
title = {Characterization of room-temperature in-plane magnetization in thin flakes of CrTe$_2$ with a single spin magnetometer},
author = {F. Fabre and A. Finco and A. Purbawati and A. Hadj-Azzem and N. Rougemaille and J. Coraux and I. Philip and V. Jacques},
journal= {arXiv preprint arXiv:2011.05722},
year = {2021}
}
备注
9 pages, 5 figures