马赫-曾德尔型电光强度调制器中残余啁啾的表征与补偿

我们利用多种技术来表征基于光纤的马赫-曾德尔电光强度调制器的残余相位调制。采用外差技术直接测量由给定强度变化引起的相位变化，从而确定器件的啁啾参数。还通过检查正弦幅度调制的边带比来测量该啁啾参数。最后，通过外差信号测量纳秒时间尺度上由强度脉冲引起的频率啁啾。我们表明，这种啁啾可以用一个单独的相位调制器在很大程度上得到补偿。啁啾参数的各种测量结果具有合理的一致性。