复杂介质中传输的通道互关联

通过在微波腔中测量四个天线之间的传输，我们直接研究了从位于 $\vec{r}_a$ 的天线到位于 $\vec{r}_b$ 的天线的截面 $\sigma^{ab}$ 的通道互关联 $C$。具体地，我们寻找 $C_\Sigma$ 和 $C_\Lambda$，其唯一区别在于 $C_\Lambda$ 没有四个通道中的任何一个相同，而 $C_\Sigma$ 恰好有一个通道相同。我们通过实验发现，正如理论所预言，这两个通道互关联作为通道耦合强度的函数是反相的。这种反关联对于给出普适电导涨落的正确数值至关重要。为了使得实验与随机矩阵理论的预言良好吻合，必须考虑吸收效应。