焦散与流体静力学质量偏差：对修正引力的启示

我们提出并执行了对两种不同星系团质量估计方法——即流体静力学技术和焦散技术——的联合分析。首先，我们全面展示了当在焦散技术中利用通过流体静力学技术约束的、特定于星系团的假设时，这两种技术之间的质量偏差可能得到缓解。虽然从表面上看，这降低了焦散技术作为一种完全独立方法的地位，但这使得人们能够进一步收紧对星系团质量的约束，并随后允许我们检验对引力的修正。对两个被充分观测的大质量星系团A2029和A2142实施上述形式体系，我们展示了这一概念的验证。在当前的实施中，我们使用此方法来约束变色龙屏蔽和Vainshtein屏蔽。正如预期，我们表明联合分析有助于改善对这些修正引力场景的约束。