极紫外瞬态吸收光谱捕获的多层 WSe₂ 载流子与声子动力学
材料科学
2023-03-06 v2
摘要
在 W N₆,₇、W O₂,₃ 与 Se M₄,₅ 边（30–60 eV）处，通过极紫外（XUV）瞬态吸收（TA）光谱捕获多层 WSe₂ 薄膜中的载流子与声子动力学。在宽带光学泵浦脉冲之后，XUV 探针直接报告光激发空穴的占据情况与声子诱导的能带重整化。通过与密度泛函理论计算比较，确定了 W O₃ 边以下的 XUV 瞬态吸收源于空穴，而 Se M₄,₅ 边的信号主要由声子动力学主导。其中，提取出 0.4 ps 空穴弛豫时间、1.5 ps 载流子复合时间与 1.7 ps 声子加热时间。在单一实验中获取空穴与声子诱导的信号有助于研究电子与声子动力学之间的关联。此外，同时观测来自不同元素的信号可进一步拓展至探索多层与合金中的光化学过程，从而为其电子学、光催化剂与自旋电子学应用提供关键信息。
引用
@article{arxiv.2211.08731,
title = {Carrier and Phonon Dynamics in Multilayer WSe2 captured by Extreme Ultraviolet Transient Absorption Spectroscopy},
author = {Juwon Oh and Hung-Tzu Chang and Christopher T. Chen and Shaul Aloni and Adam Schwartzberg and Stephen R. Leone},
journal= {arXiv preprint arXiv:2211.08731},
year = {2023}
}
备注
26 pages, 7 figures