大规模智能表面中建模硬件损伤导致的容量退化
信息论
2018-10-24 v1 math.IT
摘要
在本文中，我们考虑新提出的大规模智能表面（LIS）系统潜在硬件损伤（HWI）所引起的容量退化。若无HWI，表面面积效用（容量对表面面积的一阶导数）被证明与其成反比。有HWI时，由于HWI引起的更高有效噪声水平，容量与表面面积效用均发生退化。在首先以一般形式对HWI建模后，我们以闭式推导有效噪声密度与效用的减量。由此可清晰看到增大表面面积的影响。一个有趣但也是自然的结果是，在严重HWI情形下，增大表面面积反而会使容量与效用均下降。容量与效用开始随HWI下降的转折点可由所推导的公式评估。此外，我们还考虑通过将LIS系统拆分为多个小型LIS单元来实现分布式部署，由于各单元表面面积更小，HWI的影响可被显著抑制。
引用
@article{arxiv.1810.09672,
title = {Capacity Degradation with Modeling Hardware Impairment in Large Intelligent Surface},
author = {Sha Hu and Fredrik Rusek and Ove Edfors},
journal= {arXiv preprint arXiv:1810.09672},
year = {2018}
}
备注
6 pages, 7 figures, submitted to GlobeCom 2018