用于暗能量巡天的校准超快图像模拟

由大尺度结构引起的弱引力透镜是探测宇宙暗成分的有力技术。为了理解弱引力透镜的测量过程及相关系统效应，图像模拟正变得日益重要。为此，我们提出了 $\textit{Monte Carlo Control Loops}$（$\textit{MCCL}$；Refregier & Amara 2014）的首次实现，这是一个用于研究弱引力透镜系统效应的连贯框架。它允许我们使用超快图像生成器（UFig；Berge 等人 2013）的图像模拟来建模和校准剪切测量过程。我们将此框架应用于暗能量巡天（DES）科学验证期（SV）期间所取数据的子集。我们将 UFig 模拟校准到与 DES 图像统计一致。然后我们通过扰动模拟参数进行容忍度分析，并研究它们在单点层面对剪切测量的影响。这使我们能够确定不同输入参数对模拟的相对重要性。对于空间恒定的系统误差和六个模拟参数，模拟的校准达到了 DES SV 巡天面积所需的弱引力透镜精度。此外，我们发现剪切测量对内在椭率分布敏感，以及幅度-大小诊断与像素值诊断在约束噪声模型时的相互作用。这项工作是 MCCL 框架在数据上的首次应用，并展示了如何用它来有条理地研究系统效应对宇宙剪切测量的影响。