利用频率梳的宽带无定标腔增强复折射率光谱
光学
2023-07-10 v1
摘要
我们提出宽带腔增强复折射率光谱（CE-CRIS），一种通过对填充样品的法布里-珀罗腔的透射模式进行直接测量，无定标地确定整个分子带复折射率的技术。腔透射谱的测量使用光学频率梳和具有亚标称分辨率的机械傅里叶变换光谱仪完成。分子吸收谱和色散谱（对应于折射率的虚部和实部）由腔模式展宽和位移获得，这些展宽和位移通过对各个腔模式拟合洛伦兹线型得到。该方法无定标，因为模式展宽和位移与腔参数（如长度和镜面反射率）无关。在首次宽带 CE-CRIS 演示中，我们同时测量了 CO2 在 1525 nm 至 1620 nm 范围内三个合频带的吸收谱和色散谱，并与理论模型吻合良好。这为多个分子带复折射率的精密光谱学开辟了道路。
引用
@article{arxiv.1805.00799,
title = {Broadband calibration-free cavity-enhanced complex refractive index spectroscopy using a frequency comb},
author = {Alexandra C. Johansson and Lucile Rutkowski and Anna Filipsson and Thomas Hausmaninger and Gang Zhao and Ove Axner and Aleksandra Foltynowicz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.00799},
year = {2023}
}