通过共振散射约束带电轻子味破坏

我们探索了借助高亮度轻子-光子与电子-缪子碰撞探测带电轻子 sector 中味破坏的可能性，通过反转当前用于约束此类破坏的多种衰变道中的初态与末态。具体而言，我们分析了共振轻子过程 $\gamma\, \ell \to \ell^{\prime}$ 与中性介子过程 $e^- \mu ^+ \to \phi,\eta,\pi^0\!$ 的散射道，其截面关键依赖于对撞束的能量展宽，在轻子过程中要求尤为苛刻。对于这些过程，我们计算了对应于当前反衰变道速率上限的截面上限。为规避束流能量展宽限制，我们将分析扩展至伴随共振在末态出现一个光子的过程，通过辐射回程补偿离壳效应。这些过程或可在具有适中能量的未来设施中研究，前提是具备足够高亮度的轻子-光子与电子-缪子碰撞。