中微子质量矩阵中纹理零点的自底向上方法

我们通过自底向上的方法，利用最新的振荡数据研究中微子质量矩阵中的一个和两个纹理零点。在此背景下，我们通过改变CP破坏相位在$(0,\,2\pi)$范围内、最低中微子质量在$(0,\,1)\,{\rm eV}$范围内以及中微子振荡参数（如三个混合角和两个质量平方差）在其中心值的$3\sigma$范围内，来估计每个矩阵元素的详细特征。我们发现，对于正序，只有质量矩阵的$ee$、$e\mu$和$e\tau$元素可以为零；而对于反序，五个元素——$e\mu$、$e\tau$、$\mu\mu$、$\mu\tau$和$\tau\tau$——可以为零。对于两个纹理零点，在正序情况下，只允许$(ee,\, e\mu = 0)$和$(ee,\, e\tau =0)$。对于特定的消失元素，我们还估计了最低中微子质量和CP破坏相位的范围。特别是，对于每个消失情况，我们得到了CP破坏相位与最低中微子质量之间非常有趣的相关性。