X波段相控阵收发机的板级码调制嵌入式测试与校准
信号处理
2021-07-13 v1
摘要
我们提出了使用码调制嵌入式测试（CoMET）的相控阵内置测试与校准方法。我们的方法利用现有移相器在每个单元内对测试信号进行笛卡尔调制，将这些信号合成为聚合的码复用响应，下变频并利用内置功率检波器产生码调制的单元间“干扰乘积”，从数字化的干扰响应中解调相关量，并使用方程求解器提取各单元的幅度与相位。讨论了旋转轴方法，以在原始 0/90/180/270 度轴附近精确提取相位。我们的技术在板级上针对接收和发射两种模式进行了演示，使用的是由 ADI 的 ADAR1000 芯片构建的八单元 8-16 GHz 相控阵。在 6 GHz 下，CoMET 提取的增益和相位与网络分析仪测量值相比精度在 0.2 dB 和 3 度以内。随后我们将 CoMET 用于校准环路，以确定 6 GHz（超出该阵列设计的 8-16 GHz 频段）下的最佳控制设置。我们实现了七位相位分辨率和均衡增益。均方根增益和相位误差从校准前的 0.8 dB 和 8 度改善至校准后的 0.1 dB 和 1.7 度。
引用
@article{arxiv.2107.05162,
title = {Board-level Code-Modulated Embedded Test and Calibration of an X-band Phased-Array Transceiver},
author = {Zhangjie Hong and Simon Schönherr and Vikas Chauhan and Brian Floyd},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.05162},
year = {2021}
}