磁共振力显微术中双站电子自旋信号的基带探测
量子物理
2007-05-23 v2
摘要
在单自旋磁共振力显微术（MRFM）中，目标是通过微加工悬臂测量自旋诱导的attoNewton级力来探测样品体积中电子（或核）自旋的存在。在单自旋MRFM的OSCAR方法中，自旋由外部射频场操控以产生悬臂共振频率的小周期偏移。这些偏移可通过频率解调继以常规幅度或能量检测来探测。本文中，我们提出一种基于最优检测理论与Gibbs采样的替代探测方法。基于仿真，我们表明对于实际MRFM工作条件，我们的探测器优于常规幅度与能量探测器。例如，为达到10%虚警率与80%正确检测率，相较常规幅度或能量探测器，我们的探测器具有8 dB SNR优势。此外，在这些检测率下，其距全知匹配滤波下界仅差4 dB。
引用
@article{arxiv.quant-ph/0307042,
title = {Baseband Detection of Bistatic Electron Spin Signals in Magnetic Resonance Force Microscopy (MRFM)},
author = {Chun-yu Yip and Alfred O. Hero and Daniel Rugar and Jeffrey A. Fessler},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0307042},
year = {2007}
}
备注
8 pages, 9 figures, revision of paper contains correction to a typo on the first page (introduction section)