聚乙烯-氧化镁纳米复合电介质界面的能带弯曲
材料科学
2017-05-05 v1
摘要
聚合物纳米复合电介质是高压应用中极具前景的电气绝缘材料。然而，其优异性能背后的物理机制尚未被完全理解。我们采用密度泛函理论研究了氧化镁-聚乙烯纳米复合材料界面区域的电子特性。我们的结果表明，聚乙烯的导带与氧化镁不同表面的导带相匹配。这种能带弯曲导致了深达2.6 eV的长程势阱。此外，还评估了硅处理对氧化镁表面性质的根本性影响。我们报告了在硅处理界面处表面诱导态的减少。这些模拟所提供的信息被用于提出一种纳米复合电介质中电荷捕获的新模型。
引用
@article{arxiv.1611.10251,
title = {Band bending at the interface in Polyethylene-MgO nanocomposite dielectric},
author = {Elena Kubyshkina and Mikael Unge and B. L. G. Jonsson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1611.10251},
year = {2017}
}
备注
arXiv admin note: substantial text overlap with arXiv:1604.05984