基于 XUV 瞬时光栅谱学的超快空穴与电子动力学背景-free 跟踪
光学
2026-05-19 v1 材料科学
化学物理
摘要
极紫外 (XUV) 瞬时吸收 (TA) 和瞬时反射率 (TR) 光谱学能够实现对固体中亚秒尺度过程的元素特异性洞察。XUV 瞬时光栅谱学 (TGS) 是一种新兴工具，综合了吸收和反射率的优势，同时提供内在的背景-free 检测。本文通过在德国化物中利用两个几周期近红外脉冲生成瞬时光栅，并以通过桌面式高谱产生的亚秒 XUV 脉冲进行探测，实现了 XUV-TGS。谱分辨的衍射 XUV 脉冲直接可视化了两类光生电子和空穴的独立超短衰减时间，无需迭代反卷积。通过组合 XUV-TA 和 -TG 光谱学，我们可在无需 XUV-TR 所需的克拉默斯-科恩重构的情况下提取复折射率的演化，从而揭示诱导光学响应的根本原因。我们发现实部折射率变化可达 34%，而虚部变化仅导致反射率变化约 0.5%。
关键词
引用
@article{arxiv.2602.09565,
title = {Background-free Tracking of Ultrafast Hole and Electron Dynamics with XUV Transient Grating Spectroscopy},
author = {Vincent Eggers and Rafael Quintero-Bermudez and Kevin Gulu Xiong and Stephen R. Leone},
journal= {arXiv preprint arXiv:2602.09565},
year = {2026}
}
备注
Transient Grating; XUV; Germanium