用于宽温区低温片上测温的 Au-Ge 合金
材料科学
2019-09-18 v2
摘要
我们给出了一种 Au-Ge 合金的结果，该合金可用作基于电阻的测温计，从室温一直至至少 \SI{0.2}{\kelvin}。在宽温区内，该合金的电阻率呈现对数温度依赖，这同时保留了实用测温所需的灵敏度，又保持了相对适中且易于测量的电阻值。我们表征了该合金作为潜在测温计的灵敏度，并表明其优于市售温度传感器。我们通过实验确定，该合金特有的对数温度依赖源于其所经历热处理诱导的类 Kondo 行为。
引用
@article{arxiv.1902.10111,
title = {Au-Ge alloys for wide-range low-temperature on-chip thermometry},
author = {J. R. A. Dann and P. C. Verpoort and J. Ferreira de Oliveira and S. E. Rowley and C. J. B. Ford and G. J. Conduit and V. Narayan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1902.10111},
year = {2019}
}