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具有退化界面的超导结输运特性中的反常内隙结构

超导电性 2016-08-11 v1 介观与纳米尺度物理

摘要

对新超导体隧穿和断裂结器件中电荷输运的定量描述遇到了一些传统超导材料不存在或不严重的问题。在这项工作中,我们将相关输运特性中的意外特征解释为超导体表面退化纳米尺度鞘层的影响。提出了一种捕捉具有正常导电纳米厚度中间层的混合超导结构弹道电荷输运主要方面的模型。计算基于散射形式体系,考虑了正常金属-超导体界面处的安德烈夫电子-空穴(及逆)反射,以及电极间绝缘势垒中的透射和背散射事件。此类器件的电流-电压特性展现出丰富多样的反常(从标准理论角度看)特征,特别是能隙电压处微分电导最大值向较低位置移动,以及出现清晰的下陷而非预期的相干峰。我们将我们的结果与相关实验数据进行了比较。

关键词

引用

@article{arxiv.1608.03187,
  title  = {Anomalous Inner-Gap Structure in Transport Characteristics of Superconducting Junctions with Degraded Interfaces},
  author = {E. Zhitlukhina and I. Devyatov and O. Egorov and M. Belogolovskii and P. Seidel},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1608.03187},
  year   = {2016}
}

备注

an author version published in Nanoscale Research Letters