Y-Ba-Cu-O薄膜表面阻抗中的异常特征：频率、射频和直流场的依赖性
超导电性
2018-07-04 v1
摘要
我们使用共面谐振器技术在8和16 GHz研究了两个高品质的Y-Ba-Cu-O薄膜（基底为MgO）。两种薄膜均表现出随微波场Hrf增大而异常减小的表面阻抗Zs。在零直流场下，两种样品的Rs和Xs随Hrf的依赖性不相关，仅其中一种量（Rs或Xs）显示异常行为。当施加相对较弱（约5 mT）的直流磁场Hdc后，可产生Rs(Hrf)和Xs(Hrf)的相关减小。两种薄膜在低和高微波功率 regimes下的Zs随Hdc的依赖性均呈非单调变化。在低至高微波功率范围的转换中，Rs随频率的依赖性Rs ~ fn，1.7 < n < 2.5保持不变。本文报告的发现对微波器件应用作了简要讨论。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/0008302,
title = {Anomalous Features in Surface Impedance of Y-Ba-Cu-O Thin Films: Dependence on Frequency, RF and DC Fields},
author = {Anton V. Velichko and Adrian Porch and Richard G. Humphreys},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0008302},
year = {2018}
}
备注
4 pages, 4 figures. Submitted to ASC'2000 Conference Proceedings