全局 SMEFT 分析中的反常：以第一行列 CKM 幺正性为例

近期涉及轻夸克的半轻子带电流过程的标准模型分析揭示了卡比博普适性检验中涉及介子、中子及核 beta 衰变的 $\sim 3\sigma$ 张力。在本文中，我们在标准模型有效场论(SMEFT)框架下探索这一所谓卡比博角反常的超出标准模型解释，不仅包含低能带电流过程('L')，还包含电弱精密可观测量('EW')和探测跨越宽广能标下相同底层物理的 Drell-Yan 对撞机过程('C')。由此产生的 'CLEW' 框架不仅允许人们检验卡比博角反常的解释，还被建立为以对 SMEFT 算符味结构最小假设提供近模型无关的分析。除全局分析外，我们考虑了大量更简单的情形，每种情形含一个 SMEFT 算符子集，并研究它们在多大程度上改进了标准模型拟合。我们发现，按赤池信息准则判断，最受青睐的情形是那些涉及右手带电流的情形。额外的相互作用，即倾斜算符、修正费米常数的项以及涉及右手中性流的算符，若分析中纳入 CDF 对 $W$ 质量的测定，则发挥作用。