薄膜X射线衍射中的角度因子校正
材料科学
2017-02-23 v2
摘要
目前对于体材料中由 K{\alpha} 双线引起的高角度宽峰进行角度（Lorentz、偏振和吸收（LPA））校正的实践，是基于 Pike (Acta Cryst., 12 (1959) 87-92) 和 Ladell (Acta Cryst. 14 (1961) 47-53) 的结果。这些结果被扩展到了薄膜 X 射线衍射。目前薄膜研究中在 LPA 校正中使用单色辐射吸收因子的做法，在对称入射和掠入射 X 射线衍射中都是不正确的。本文推导了吸收校正的正确表达式。此外，证明了对于极薄膜存在一个新的长度尺度，即线性区间，在此区间内吸收因子和积分强度均与吸收系数无关。对于极薄膜，使用线性区间的表达式比薄膜区间的表达式更具实际优势。获得这两项主要结果的过程具有普遍适用性，可扩展至多种薄膜衍射技术。
引用
@article{arxiv.1612.01805,
title = {Angular factor corrections in thin film x-ray diffraction},
author = {T. R. S. Prasanna},
journal= {arXiv preprint arXiv:1612.01805},
year = {2017}
}
备注
Manuscript rewritten with new results. submitted for publication