反铁电薄膜相图
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
本文考虑了薄反铁电薄膜中相变和极性性质的尺寸效应。我们修正了Kittel提出的唯象方法。欧拉-拉格朗日方程通过直接变分法求解。推导出了具有依赖于薄膜厚度的重整化系数的自由能。获得了系数对薄膜厚度、温度、极化梯度系数和外推长度依赖关系的近似解析表达式。我们展示了反铁电双电滞回线如何在薄膜厚度减小时转变为铁电单电滞回线。所提出的理论解释解释了在反铁电PbZrO_3薄膜中获得的实验结果。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0608684,
title = {Anti-Ferroelectric Thin Films Phase Diagrams},
author = {E. A. Eliseev and M. D. Glinchuk and A. N. Morozovska},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0608684},
year = {2007}
}
备注
15 pages, 5 figures, 2 appendices