含第四代的标准模型中 B --> \pi \ell^+ \ell^- 衰变的分析
高能物理 - 唯象学
2009-11-13 v2
摘要
我们研究了第四代夸克对 B --> \pi \ell^+ \ell^- 衰变的分支比和 CP 不对称性的影响。取 |V_{t'd}V_{t'b}| ~ 0.001 且相位约为 10 度，这与 CKM 的 sin2\phi_1 和 B_d 混合参数 \Delta m_{B_d} 一致，我们得出对于μ子和τ子通道，分支比、CP 不对称性的大小以及轻子极化都强烈依赖于第四代夸克的质量和混合参数。这些结果可作为寻找新物理效应的良好工具，确切地说，是通过第四代夸克 () 在圈图中的间接表现来寻找它们。
引用
@article{arxiv.0710.1401,
title = {Analysis of the B --> \pi \ell^+ \ell^- Decay in the Standard Model with Fourth Generation},
author = {V. Bashiry and K. Zeynali},
journal= {arXiv preprint arXiv:0710.1401},
year = {2009}
}
备注
17 pages, 8 figures