通过电子断层扫描分析自组装堆叠量子点的三维分布
材料科学
2012-10-25 v4
摘要
本文已被作者撤回。自组装堆叠量子点（QDs）的三维分布是获得各类光电器件最高性能的关键参数。在本工作中，我们结合针状样品制备和电子断层扫描技术，在三维空间中测量了该分布。我们表明，传统的二维 QD 分布测量并不可靠，只有三维分析才能实现生长设计与结构特征之间的准确关联。
引用
@article{arxiv.1209.0892,
title = {Analysis of the 3D distribution of self-assembled stacked quantum dots by electron tomography},
author = {Jesús Hernández-Saz and Miriam Herrera and Diego Alonso-Álvarez and Sergio I. Molina},
journal= {arXiv preprint arXiv:1209.0892},
year = {2012}
}