约瑟夫森结势垒变化分析:结合电子显微镜、击穿与蒙特卡洛方法
量子物理
2025-10-10 v3 介观与纳米尺度物理
材料科学
应用物理
摘要
制造公差严格的约瑟夫森结是超导量子计算的必要组件。开发约瑟夫森结的精确制造技术需要理解其组成以及用于优化的鲁棒反馈指标。在此我们考虑了互补技术,以评估它们能让我们对结中的势垒得出何种结论。势垒的蒙特卡洛模拟表明,总势垒厚度的 15-20% 标准差与我们的实验数据兼容。电击穿使我们能够探测势垒中最薄弱的点。缩小击穿分布为势垒优化提供了一个有前景的反馈机制。按击穿电压对结进行分组使我们能够识别具有不同中位电阻的结的子系综。透射电子显微镜可用于测量平均势垒厚度,尽管我们强调从这些实验中对势垒厚度分布形成稳健结论存在挑战。
引用
@article{arxiv.2502.13072,
title = {Analysis of Josephson Junction Barrier Variation: A Combined Electron Microscopy, Breakdown and Monte-Carlo Approach},
author = {Oscar W. Kennedy and Kevin G. Crawford and Kowsar Shahbazi and Connor D. Shelly},
journal= {arXiv preprint arXiv:2502.13072},
year = {2025}
}
备注
8 main pages, 5 main figures, 1 table, appended SI