通过参数控制与校准改进 X 射线衍射仪结果的分析
应用物理
2024-08-23 v1
摘要
实验室中的 X 射线衍射仪是科学中分析材料的关键仪器。它几乎可用于任何晶体材料，若适当控制仪器参数，可提供大量关于样品特性的信息。然而，这些仪器所获得的数据因像差函数而变得复杂，该函数可通过校准解决。本研究中，使用由硫酸钡（BaSO4）、氧化锌（ZnO）和铝（Al）组成的粉末作为第一样品，以及由氮化镓（GaN）和氧化铝（Al2O3）组成的单晶样品。分析并实施了两种样品所需的 X 射线衍射仪校准参数，即：直束对准、光束切割对准和样品倾斜对准。利用 X 射线谱的结果，对峰位对应晶面、晶面 d 间距、强度、最小晶粒尺寸和晶格参数等重要参数进行了分析，并与参考数据进行了比较。作为另一结果，利用摇摆曲线可确定 GaN 的面外对准和半高全宽（FWHM）值。
引用
@article{arxiv.2310.10786,
title = {An analysis on improvement of x-ray diffractometer results by controlling and calibration of parameters},
author = {Hamidreza Moradi and Fatemeh Mehradnia},
journal= {arXiv preprint arXiv:2310.10786},
year = {2024}
}