扫描探针显微术中晶体学图像处理进展
材料科学
2020-12-02 v2 图像与视频处理
摘要
本图书章节回顾了自我们于 2010 年在本丛书系列中首次将该技术描述开放获取以来，扫描探针显微术（SPM）中晶体学图像处理（CIP）所取得的进展。CIP 显著增强了或多或少规则的二维周期阵列各类实验图像中的信噪比，且该技术独立于记录设备的类型。在 SPM 成像背景下，CIP 可被理解为通过计算方法对有效实验扫描探针针尖的事后锐化。如今已可从自组装或人工制造的二维物理对象周期阵列图像中去除多重扫描探针微针尖效应。科学界现已公认，SPM 针尖在显微镜操作过程中可改变其形状与精细结构，从而以系统性方式混淆所记录的图像。CIP 恢复了此类图像中大量被涂抹掉的信息。将来自机器人与计算机视觉领域的几何赤池信息准则改造用于二维平移对称性的明确检测，促成了我们近期的诸多进展。在本章正文中，我们讨论这一改造并简要通过一个实例说明其效用。
引用
@article{arxiv.2011.13102,
title = {Advances in Crystallographic Image Processing for Scanning Probe Microscopy},
author = {Peter Moeck},
journal= {arXiv preprint arXiv:2011.13102},
year = {2020}
}
备注
12 pages, 5 figures, 2 tables, book chapter