X 射线分析中标定不确定性的处理：谱拟合中的有效面积

尽管在考虑天文分析中的统计不确定性方面取得了显著进展，但系统性的仪器不确定性通常被忽略。这对于正确解释分析结果可能至关重要，因为仪器标定不确定性是一种系统不确定性。忽略它可能会低估误差棒，并在模型参数的拟合值中引入偏差。如果使用现有的分析软件包，考虑此类不确定性目前需要进行大量的特定案例模拟。在此，我们提出了将标定不确定性纳入高能数据谱分析的通用统计方法。我们首先提出了一种基于多重插补的方法，该方法可应用于任何拟合方法，但必然是近似的。然后，我们描述了一种更精确的贝叶斯方法，该方法与基于马尔可夫链蒙特卡洛的拟合协同工作。我们探索了提高计算效率的方法，并特别详细描述了一种通过主成分分析对合理标定文件样本进行总结以概括标定不确定性的方法。该方法使用最近编纂的钱德拉有效面积不确定性，针对低分辨率谱分析进行了实现，并利用模拟和实际的钱德拉数据进行了验证。我们纳入有效面积不确定性的程序可以轻松推广到其他类型的标定不确定性。