高能质子-质子弹性散射中电磁形状因子的吸收修正

最近注意到，高能质子-质子散射中电磁形状因子的吸收修正对于在RHIC上使用氢喷注靶极化仪测量的 $p^\uparrow{p}$ 和 $p^\uparrow{A}$ 分析功率 $A_\text{N}(t)$ 的理论解释至关重要。本文在程函方法框架内推导了吸收修正的简洁表达式。结果分析揭示，当数据分析中忽略吸收效应时，实验确定的实部与虚部之比 $\rho$ 存在系统偏差，该偏差几乎与束流能量无关。通过将Regge拟合应用于可用的质子-质子 $\rho^\text{meas}(s)$ 和 $\sigma^\text{meas}_\text{tot}(s)$ 测量值，量化了该偏差为 $\rho^\text{meas}=\rho + (0.036\pm0.016)_\text{bias}$。考虑到这种效应对实验确定的 $A_\text{N}(t)$ 的潜在影响，可能会增强HJET和STAR对强子自旋翻转振幅测量的一致性。虽然 $\rho$ 值的偏差符号与预期中由于吸收导致的 $pp$ 散射中质子电荷半径的有效增加一致，但它放大了TOTEM实验中在 $\sqrt{s}=13\,\text{TeV}$ 下测得的 $\sigma^\text{meas}_\text{tot}$ 和 $\rho^\text{meas}$ 值之间的观测差异。利用已发表的TOTEM数据评估测得的质子-质子 $d\sigma/dt$ 对吸收修正的依赖性表明，强子振幅斜率可能的软光子修正对此类数据分析可能至关重要。