面向广泛半导体材料的光导滞后测量系统
材料科学
2026-02-04 v1
摘要
时域光导滞后是广泛用于表征非平衡电荷载流子寿命、掺杂含量以及太阳能电池效率的手段，适用于多种半导体材料。大多数测量受限于检测单个频率和单个激发光波长的反射。我们 presented of a time-resolved photoconductivity instrument that enables broadband frequency detection（基本从直流到 100 GHz），temperature-dependent measurements，以及 multiple excitation photon energy。该测量通过共面波导实现，后者充当高效天线，其性能在 10 MHz-10 GHz 范围内得到测试。该仪器使得能够研究表面和 bulk 电荷复合特定过程。
引用
@article{arxiv.2411.16892,
title = {A Versatile System for Photoconductance Decay Measurement Across a Wide Range of Semiconductor Materials},
author = {A. Bojtor and D. Krisztian and G. Parada and F. Korsos and S. Kollarics and G. Csosz and B. G. Markus and L. Forro and F. Simon},
journal= {arXiv preprint arXiv:2411.16892},
year = {2026}
}