硅表面的电流诱导不稳定性的统一处理
软凝聚态物质
2009-11-10 v1 材料科学
摘要
我们引入了一个简单的两区域模型，其中在表面上每个步边附近的小区域中的扩散常数可以不同于在台阶上的扩散常数。该模型的稳态结果为传统尖锐步模型中的动力学系数提供了一种物理上直观的映射，其中来自步边区域快速扩散的贡献导致一个负系数。对该尖锐步模型进行线性稳定性分析，提供了对硅(111)和硅(001)表面上电流诱导步聚集和步迁动不稳定性众多实验结果的统一且简洁的解释。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0403488,
title = {A unified treatment of current-induced instabilities on Si surfaces},
author = {Tong Zhao and John D. Weeks and Daniel Kandel},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0403488},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 1 figure. Submitted to Phys. Rev. Lett