球形电子发射显微镜的理论分析：k 空间分布与光谱
材料科学
2015-06-25 v1
摘要
我们分析 BEEM 实验。在低温和低电压下，接近 Schottky 势垛阈值值时，BEEM 当前主要由弹性分量决定。晶格的弹性散射导致聚焦束和实空间中窄线的形成。为计算注入半导体中的电流，我们在倒数空间中计算电流分布，并假设能量和 保存。我们的结果表明，注入电子束得到重要聚焦，并解释了 Au/Si(111) 和 Au/Si(100) BEEM 当前之间的相似性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9710091,
title = {A theoretical analysis of Ballistic Electron Emission Microscopy: k-space distributions and spectroscopy},
author = {P. L. de Andres and K. Reuter and F. J. Garcia-Vidal and D. Sestovic and F. Flores},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9710091},
year = {2015}
}
备注
17 pages, 5 figures (postscript), Latex, APS, http://www.icmm.csic.es/Pandres/pedro.htm. Appl. Surf. Sci. (in press)