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采用双面制备技术的单个本征约瑟夫森结

超导电性 2009-11-11 v1

摘要

我们在极薄(d100d\leq 100~nm)Bi2Sr2CaCu2O8+x\mathrm{Bi_2Sr_2CaCu_2O_{8+x}} 单晶的体相中制备了本征约瑟夫森结(IJJs)堆栈。通过在双面制备过程中精确控制蚀刻深度,可以可重复地定制堆栈为任意微观高度(09nm<d0-9 \mathrm{nm} <d),即包含指定数量的 IJJ(0-6),包括单个结这一重要情况。我们讨论了样品在高偏压下的电流-电压特性中可重复的类能隙特征。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/0605475,
  title  = {A single intrinsic Josephson junction with double-sided fabrication technique},
  author = {L. X. You and M. Torstensson and A. Yurgens and D. Winkler and C. T. Lin and B. Liang},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0605475},
  year   = {2009}
}

备注

3 pages, 4 figures, to be published in APL May. 29