一种用于荧光检测的扫描平面八木天线
光学
2021-09-09 v1
摘要
提高纳米尺度光源探测效率的一种有效途径依赖于平面天线构型，其将发射光束入一个窄锥中。平面天线像光学八木天线一样工作，其中反射器和引向器元件由金属膜制成。本文中，我们从理论和实验两方面介绍并研究了一种平面天线的扫描实现。利用包含在荧光纳米珠中的小分子系综置于该天线中，我们独立地刻画了强度、辐射方向图以及衰减速率随扁平尖端扫描金线（反射器）与涂覆在玻璃盖玻片上的薄金膜（引向器）之间距离的变化关系。该扫描平面天线改变了单个荧光珠的辐射方向图，并将光束入半高全宽低至 45° 的窄锥中。此外，与玻璃盖玻片情况相比，收集信号大于 3 倍，这主要归因于激发增强。这些结果增进了对平面天线修饰光-物质相互作用的理解，并为传感、成像和诊断等应用带来前景。
引用
@article{arxiv.2106.13036,
title = {A scanning planar Yagi-Uda antenna for fluorescence detection},
author = {Navid Soltani and Elham Rabbany Esfahany and Sergey I. Druzhinin and Gregor Schulte and Julian Müller and Florian Sledz and Assegid Mengistu Flatae and Benjamin Butz and Holger Schönherr and Nemanja Markesevic and Mario Agio},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.13036},
year = {2021}
}