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利用单库珀对晶体管对准粒子陷阱的定量研究

超导电性 2009-11-13 v1 介观与纳米尺度物理

作者: N. A. Court , A. J. Ferguson , Roman Lutchyn , R. G. Clark

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摘要

我们使用射频反射测量法测量单库珀对晶体管中的准粒子隧穿率。研究了岛附近有无准粒子陷阱的器件。在存在准粒子陷阱的情况下，观察到岛上的准粒子隧穿率降低了 $10^2$ 至 $10^3$ 倍。在带有准粒子陷阱的样品中，我们还测量到离开岛的准粒子隧穿率相应降低。

关键词

准粒子陷阱单库珀对晶体管准粒子隧穿率射频反射测量法超导器件

引用

@article{arxiv.0710.2760,
  title  = {A quantitative study of quasiparticle traps using the single-Cooper-pair-transistor},
  author = {N. A. Court and A. J. Ferguson and Roman Lutchyn and R. G. Clark},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0710.2760},
  year   = {2009}
}

备注

4 pages, 4 figs