忆阻器件中电阻跳变的概率模型
介观与纳米尺度物理
2023-10-03 v1 新兴技术
摘要
诸如电化学金属化电池和价态变化机制电池之类的电阻开关存储单元具有彻底改变信息处理和存储的潜力。然而，创建确定性的电阻开关器件仍是一个具有挑战性的开放问题。目前，电阻开关单元的建模主要基于确定性模型，这些模型无法捕捉这些器件固有的周期性变异。在此，我们引入状态概率分布函数及相关的积分微分方程，以描述由一系列随机跳变组成的开关过程。在两种模型情形下求得了该方程的数值解和解析解。这项工作扩展了可用于电阻开关单元及相关器件的模型工具箱，并能够对其他模型中无法涵盖的固有物理行为进行严格描述。
引用
@article{arxiv.2302.03079,
title = {A probabilistic model of resistance jumps in memristive devices},
author = {V. A. Slipko and Y. V. Pershin},
journal= {arXiv preprint arXiv:2302.03079},
year = {2023}
}