基于日冕线并受吸积预言支持的黑洞质量标度新关系

由于高能光子被我们的银河系吸收，获取天体对象中电离连续谱的形状与性质通常借助间接方法。本工作利用普遍存在的日冕线探究活动星系核（AGN）的电离连续谱。使用来自反响映射的可靠黑洞质量估计，以及谱线比 [Si VI] 1.963 微米/Br$\gamma_{\rm broad}$ 作为 AGN 电离连续谱的示踪，发现了一种新颖的黑洞质量标度关系：log($M_{\rm BH}) = (6.40\pm 0.17) - (1.99\pm 0.37) \times$ log ([Si VI]/Br$\gamma_{\rm broad})$，在 $10^6 - 10^8$ M$_{\odot}$ 的黑洞质量区间内弥散为 0.47 dex。基于薄吸积盘近似并考察了日冕线产生的基本参数空间后，我们认为驱动这一反相关关系的关键参数是吸积盘的有效温度，该温度被日冕线气体有效采样。相应地，观测到的反相关在形式上与薄吸积盘预言 $T_{\rm{disc}} \propto {M_{\rm BH}}^{-1/4}$ 一致。