利用B^± -> π^± π^+ π^- 和 B^± -> K^± π^+ π^- 衰变测量CP破坏角γ的新方法

提出了一种利用SU(3)对称性从$B^{\pm} \to \pi^{\pm}\pi^+\pi^-$和$B^{\pm} \to K^{\pm}\pi^+\pi^-$衰变测量角度$\gamma$的新颖且简单的方法。该方法基于对这些衰变的完整Dalitz图分析。所有图，包括强和电弱企鹅图，都在该过程中被考虑。该方法也避免了末态相互作用问题。在该方法中提取$\gamma$的理论误差应在$10^{\rm o}$量级或更小。考虑到第一代B工厂的B介子产生以及CLEO最近的测量，该方法可能在未来几年内提供最佳的$\gamma$测量。