$^{28}$Si 晶格参数的更精确测量
数据分析、统计与概率
2020-07-22 v2 材料科学
摘要
2011 年，通过计数 Si 原子测得的普朗克常数与通过比较机械功率和电功率测得的值之间存在差异，这促使人们对 Si {220} 晶面间距的测量进行了审查（除其他外），以确认测量值及其不确定度或识别错误。此项工作证实了先前测量的结果，并得出了具有更低不确定度的附加值 am。
引用
@article{arxiv.1503.06136,
title = {A more accurate measurement of the $^{28}$Si lattice parameter},
author = {Enrico Massa and Carlo Paolo Sasso and Giovanni Mana and Carlo Palmisano},
journal= {arXiv preprint arXiv:1503.06136},
year = {2020}
}
备注
12 pages, 17 figure, 1 table submitted to J Phys Chem Ref Data